本书以有系统的方式,深入浅出地介绍目前半导体历史回顾、物理及元件物理与制程整合所必须具备的基础理论、重要观念与方法、以及先进制造技术特别是奈米材料在最近发展快速之后,半导体的应用更加朝向奈米级的应用。
内容可分为十个章节:第一至第五章涵盖目前主流半导体元件基本特性、包括了材料、结构、电磁场中的传输行为、以及光电特性。第六至第八章探讨现代与先进的元件物理之原理及相关应用、包括了 MOS结构、非晶型半导体、以及半导体多层结构。第九至第十章则讨论以半导体元件为主的相关半导体制程与应用,包括了半导体长晶、长膜、以及元件制程。
由于强调基本物理观念与实用并重,且对于重要的观念或关键技术均会清楚地交代,并尽可能以「雷达报报站」的补充解释来帮助读者理解与想像,以期收事半功倍之效。
除了可作为电机电子工程、系统工程、应用物理、与材料工程领域的大学部高年级学生或研究生的教材,也可以作为半导体业界工程师的重要参考。适合基础理工、电子讯息、半导体相关科系学生学习的教科用书,也可提供相关从业人员参考进修之用。
作者简介
蔡淑慧
学历:物理博士
经历:曾参与多项实验研究
领域:
半导体物理
超导物理
光电科技
高频通讯
微机电技术
奈米科技
量子电脑及生医科技
兴趣:
研究生医技术及量子生物技术的整合
兴趣广泛多重涉猎,形同「量子人」;来无影去无踪,行踪如同「电子人」
CHAPTER 1 半导体的历史回顾
一、半导体简介与历史演进
CHAPTER 2 半导体的材料与结构特性
一、半导体的材料
(1)元素半导体与化合物半导体
(2)奈米半导体
二、半导体的结构
(1)晶体和非晶体──原子之大家族
(2)晶面和晶向──米勒指数
(3)金刚石结构和闪锌矿结构
(4)Ⅲ-Ⅴ族GaAs之结构分析与界面态模型
CHAPTER 3 半导体的电子结构与能隙理论
一、能隙的形成
二、金属、绝缘体、半导体与费米能阶(Fermi level)
三、内廪半导体与外廪半导体──不纯物加入的影响
(1)电洞(Holes)的概念与有效质量的意义
四、有效质量可由实验上测得──回旋加速器共振法
(1)内廪半导体和外廪半导体的差别
CHAPTER 4 半导体中载流子在电场与磁场中的传输行为
一、电阻产生的原因
(1)晶格振动所致之载流子散射
(2)不纯物所导致的载流子散射
(3)捕获与再结合中心
二、电阻的量测
(1)定电流测电压方法
(2)单臂惠斯通电桥方法
(3)双臂惠斯通电桥方法
(4)开尔文四线连接测试技术
(5)四点探针量测法
三、载流子在磁场中的作用-霍尔效应(Hall effect)
CHAPTER 5 半导体的光学性质与光电效应
一、半导体的光电现象
(1)半导体的光吸收
(2)反射率和透射率
二、本质吸收(intrinsic absorption)
(1)直接跃迁
(2)间接跃迁
三、其他吸收
(1)激子吸收
(2)自由载子的吸收
(3)杂质的吸收
(4)晶格振动吸收
四、半导体的光电导
(1)光电导的现象
五、半导体的光生伏特效应
(1)光生伏特效应
(2)光电池与太阳光电池
CHAPTER 6 半导体的同质结、异质结及MOS结构
一、非平衡载流子
(1)非平衡载流子的复合与生命期τ
(2)非平衡载流子的扩散与漂移
二、同质结──p-n结(p-n Junction)
(1)平衡时的p-n结位能障
(2)p-n结的顺向注入
(3)p-n结的逆向抽取
(4)p-n结的整流作用与载流子之注入
(5)p-n结的电容
(6)p-n结的击穿(break down)及隧道结
三、异质结(hetergeneous junction)
四、MOS结构(Metal-Oxide-Semi-conductor Structure)
(1)理想的MOS结构的电容-电压特性
CHAPTER 7 非晶型半导体
一、非晶型物质
二、非晶型物质的基本能隙模型
三、非晶型物质在半导体元件上的应用
(1)掺杂的效应
(2)直流电导
(3)非晶态半导体中的缺陷
CHAPTER 8 半导体的表面、界面与多层结构
一、半导体表面结构
(1)表面弛豫(surface relaxation)
(2)表面重构(surface reconstruction)
(3)台阶表面(stepped surface)
(4)吸附表面
二、金属与半导体界面
(1)萧特基位能障的原因
(2)欧姆接触(Ohmic contact)
三、硅与二氧化硅界面
四、半导体常见的吸附
五、半导体的多层结构──超晶格
(1)超晶格的结构与物理功能
(2)超晶格和量子阱材料的应用
CHAPTER 9 半导体长晶与薄膜制程
一、晶体成长制程
(1)半导体晶体生长的方法
(2)区域精炼与浮区成长
二、半导体薄膜的制程方法
(1)真空蒸发镀膜法(也就是物理气相沈积法)
(2)特殊蒸发法──几种比较便宜的方法
(3)溅射镀膜法(sputtering)
(4)化学气相沈积法(CVD)
CHAPTER 10 半导体元件制程
一、前言
二、氧化物的形成
(1)二氧化硅的结构与性质
(2)氧化的方法
(3)热氧化速率的因素
(4)在元件上的作用
三、掺杂
(1)热扩散
(2)热扩散的方法
(3)离子注入法
四、平面印刷术(lithography)
(1)图形转移
(2)图形刻蚀
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