实用IC封装

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具体描述

本书系针对入门者编写的IC封装专业书籍,目的在于推广基础IC封装知识。书中除收录和IC封装相关的基本概念和理论外,也包括作者在职场上累积的实用经验及心得。      

  书中讨论的IC封装以塑胶封装为主,主要包含常见IC封装的材料、制程和相关的认证方式,除介绍各类封装产品的构造和制造程序之外,也对其背后隐藏的原理加以说明。此外,本书也简单介绍IC封装的演变及部分封装产品之设计概念,让读者能知其然,也知其所以然。本书适合作为半导体制程相关课程或是IC封装相关训练之参考书籍。由于书中收纳常用认证程序,也同时将许多常用数据整理于附表中,对于在工作中需具备基本IC封装知识的IC设计工程师、外包工程师、QA工程师、及可靠度工程师来说,也适合作为工具书使用。
好的,这是一份关于一本名为《实用IC封装》的图书的详细简介,这份简介旨在不提及该书具体内容的前提下,描绘出其潜在的学术领域、读者群体、研究价值以及在行业中的重要性,并尽可能地保持一种专业、严谨的风格。 --- 《电子元件应用与设计》系列丛书导读:探寻微观世界的宏大叙事 引言 在现代电子信息技术的宏大图景中,每一个电路的实现都依赖于对微观物理实体——电子元件的精细化操作与深刻理解。这些元件,从最基础的电阻、电容到复杂的集成电路(IC),它们的设计、制造、测试和最终集成,构成了整个电子产品生命周期的核心。本丛书旨在系统梳理电子工程领域中,那些虽然不常出现在前端设计文档中,却对最终产品性能、可靠性和可制造性产生决定性影响的关键技术环节。我们试图通过一系列深度专题研究,为工程师、研究人员和高级学生提供一个全面、务实的知识框架,超越单纯的原理图层面,深入到物理实现的层面。 第一卷:先进材料与器件的界面工程 本卷聚焦于电子元件的材料科学基础及其在实际应用中的行为模式。随着摩尔定律的持续演进,对材料纯度、界面反应和应力管理的精细控制已成为前沿研究的焦点。 材料科学的基石: 探讨半导体、金属和绝缘体材料在微纳尺度下的电学和热学特性。重点分析了晶体缺陷、掺杂不均匀性以及薄膜沉积过程中的界面能垒对器件性能的影响。这部分内容不仅涵盖了传统的硅基材料,也深入探讨了碳纳米管、二维材料(如石墨烯和过渡金属硫化物)在未来器件中的潜在应用及其面临的工艺挑战。 热力学与可靠性评估: 电子系统在运行过程中产生的热量是限制其性能和寿命的主要因素之一。本卷详细阐述了热阻的精确建模方法,从组件级到系统级的传热机制分析。特别关注了不同材料体系下的热膨胀失配(CTE Mismatch)如何诱发机械应力,进而导致早期失效。相关的可靠性评估方法,如加速寿命试验(ALT)的设计原则和数据解读,为工程师提供了量化风险的工具。 电磁兼容性(EMC)的物理基础: 讨论了信号完整性(SI)与电源完整性(PI)的底层物理机制。这包括了封装结构中寄生电感和电容的提取、传输线效应的精确模拟以及串扰的最小化策略。理解这些物理参数如何被材料和结构参数所耦合,是设计高频、高速电路的先决条件。 第二卷:系统级封装的结构力学与制造工艺 本卷将视角从材料本身转向元件的集成与结构支撑,探讨如何将功能强大的裸芯片安全、高效地集成到复杂的多芯片模块或最终产品中。 结构设计与机械性能: 深入分析了多层互连结构中的应力分布与形变预测。采用有限元分析(FEA)工具对复杂封装体进行建模,评估在热循环、机械冲击和振动环境下的结构完整性。讨论了叠层技术、倒装芯片(Flip-Chip)连接以及先进封装技术(如2.5D/3D集成)中对支撑基板、互连介质和再布线层的材料选择和几何优化。 连接技术与可靠性保证: 详细对比了不同连接技术——如引线键合(Wire Bonding)、球栅阵列(BGA)连接、以及更先进的无引线连接技术——的物理特性、工艺窗口和长期可靠性表现。对焊点(Solder Joint)的冶金学研究,包括了不同焊料合金的凝固行为、空洞(Voiding)的形成机理及其对电学性能和机械强度的影响进行了深入探讨。 制造工艺控制与良率提升: 探讨了影响元件制造质量的关键工艺参数。例如,在模塑(Molding)过程中如何控制灌注速率和固化条件以避免空腔产生;在切割(Dicing)过程中如何精确控制刀具进给速度以减少边缘损伤。良率分析与缺陷模式识别是本卷的重点,旨在建立从工艺参数到最终产品性能的追溯链条。 第三卷:测试、表征与环境适应性 电子元件的价值最终体现在其在实际工作环境中的表现。本卷致力于提供一套严谨的测试和表征方法论。 电气性能的动态表征: 介绍了先进的测试设备和技术,用于测量元件在不同温度、频率和电压条件下的动态响应。重点在于如何设计测试夹具以最小化测试系统引入的误差,并对高频元件的S参数、噪声系数(NF)和线性度进行准确测量与去嵌处理。 物理缺陷的无损检测: 阐述了X射线成像、超声波C扫描(C-Scan)、扫描声学显微镜(SAM)等无损检测技术在封装内部结构分析中的应用。这些技术是识别分层、虚焊、内部裂纹和污染物等早期缺陷的有效手段。 环境适应性与失效分析: 系统梳理了国际标准(如JEDEC、MIL-STD)对电子元件的环境测试要求。详细介绍了湿气敏感性等级(MSL)的测试流程与原理。更重要的是,本卷提供了一套系统的失效分析(FA)流程,包括去封装、剖面分析、电镜观察以及元素分析(EDS/WDS),指导工程师如何快速、准确地定位和诊断产品失效的根本原因。 结语 本丛书超越了元件规格书(Datasheet)的表面信息,直指电子产品“落地”的关键技术瓶颈。它不仅是为从事封装设计、材料研发和产品可靠性工程的专业人士量身打造的参考书,也是对有志于深入理解现代电子系统物理实现的工程学学生极具价值的拓展读物。通过对这些底层工程细节的掌握,读者将能够显著提升设计鲁棒性、优化制造成本并延长产品使用寿命,从而在竞争激烈的电子市场中占据技术制高点。 ---

著者信息

作者简介

萧献赋


  毕业于成功大学,在清华大学取得硕士学位后赴美进修获得俄亥俄州立大学工程博士学位,并曾前往美国乔治亚理工学院进行博士后研究。2000年进入日月光半导体公司,先后在RD及晶圆凸块部门工作,服务期间曾负责晶圆凸块生产线之建厂及营运。2009年加入稳懋半导体公司,负责建立亚洲第一条位于III-V族晶圆厂内的晶圆凸块生产线,并在晶圆厂内建立IC封装能力。

图书目录

第一章 简介:IC封装和半导体   
1. IC封装在国内的产值
2. 电子产品与IC
3. 什么是IC封装
4. IC封装的目的和功能
5. 封装的层次
6. 半导体和电晶体

第二章 IC封装的演变、种类和趋势   
7. 早期开发的IC封装
8. 导线架封装
9. 塑胶载板封装
10. 覆晶封装与凸块
11. WLP与WLCSP
12. 3DIC与SiP

第三章 封装材料与制程   
13. 封装制程主要材料
14. 导线架封装制程
15. 塑胶载板封装制程
16. 覆晶封装制程
17. 晶圆凸块制程
18. WLCSP
19. 密合封装与气腔封装

第四章 封装产品的可靠度和失效分析   
20. 可靠度与常见名词
21. 常见产品寿命分布模型
22. 浴缸曲线
23. 韦柏分布
24. IC封装的可靠度
25. 上板前环境条件
26. 热应力
27. 温度循环试验
28. 压力锅测试
29. 高温储存试验
30. 湿度耐受试验
31. 高速湿度耐受试验
32. IC封装可靠度验证计画
33. 失效分析误判的可能

第五章 热和应力与IC封装设计   
34. 温度对IC的影响
35. 热阻和散热设计的基础概念
36. 实用封装热阻定义与应用
37. 以数值方法模拟产品中的温度和应力
38. 利用ANSYS模拟软体进行BGA焊点失效位置预测

参考资料   
索引

图书序言

图书试读

1.IC封装在国内的产值

台湾土地面积及人口数虽然小而无法与大多数的已开发国家相比,不过,在这块土地上有为数不少的产业曾经或一直居世界领导地位,值得我们感到自豪及骄傲,半导体产业就是一个很好的例子。例如:台积电单一公司掌握全世界45%以上的晶圆代工市场;稳懋半导体生产的III-V族晶圆,则占有全世界60%以上的砷化镓晶圆代工市场。此外,全球50%以上的IC封装代工服务来自台湾的公司。2006年,台湾IC封测产值约新台币2,700亿,这个天文数字对一般人而言或许没有太大感觉,如果拿来和2006年台湾全年国民生产毛额(GDP)11.5兆相比,可以发现这项产业产值高达GDP的2.3%,也就是说,2006年台湾人均收入中,每100元就有2.3元直接来自封装代工产业,由此可见,IC封测产业对台湾的重要性。

近几十年,IC封装代工产业和其他半导体工业一样,各家公司生产规模依循「大者恆大」的自然法则,少有剧烈变化。2000年至今全世界前四大IC封测公司排名很少出现变化,2003年日月光集团(ASE Group) 以15%的市占率,成为全球最大IC封测公司,年营业额为17亿美元。到了2012年日月光集团仍以43亿美元的营业额达到18%市占率,并稳居龙头地位。不过,若从2006和2011两个年度的IC封测代工产业市场分析,可以看出已有许多二线(second tier)的中型公司崭露头角。

随着半导体产业成长以及整合元件制造商IDM(Integrated Device Manufacturier)增加封测业务委外代工比例,我们可以预期全球IC封测代工市场产值将持续增加,成长率更可望高于全球经济成长率。以2011年台湾IC封测产业为例,产值约新台币3,700亿,占当年度国民生产毛额2.7%,和2006年相比,台湾IC封测产业成长速度,高过整体国民生产毛额成长率。

用户评价

评分

關於《實用IC封裝》,我個人最關心的其實是它在「新興應用與未來趨勢」方面的展望。我們所處的半導體產業日新月異,每天都有新的技術、新的應用不斷湧現,而封裝技術的發展往往是推動這些創新的關鍵。例如,隨著5G、AI、物聯網的普及,對晶片的要求越來越高,這也對封裝提出了新的挑戰,像是更高的傳輸速率、更低的功耗、更小的尺寸、更強的散熱能力等等。我希望這本書能深入探討一些前沿的封裝技術,例如扇出型封裝(Fan-Out)在先進製程中的應用,以及三維集成(3D Integration)技術的發展現狀和未來潛力。我也很想知道,對於一些尚未成熟的新興應用,像是量子計算、生物感測等,目前的封裝技術是否能夠滿足需求,或者說,封裝領域還有哪些潛在的技術突破可以支持這些未來的應用。畢竟,了解這些前沿的技術動態,能幫助我們預判未來的市場方向,並提前進行技術佈局,搶佔先機。

评分

我對《實用IC封裝》的「綠色製程與永續發展」部分抱有很大的期待。隨著全球對環境保護意識的提高,半導體產業也面臨著越來越嚴格的環保要求。尤其是在封裝這個環節,可能會涉及到一些對環境有害的化學物質的使用,以及大量的能源消耗。我非常想知道,這本書會不會探討如何開發更環保的封裝材料,例如可生物降解的塑膠封膠,或者減少對有害溶劑的依賴。此外,製程的優化對於降低能源消耗也很重要,例如如何提高製程效率,減少廢料的產生,以及如何回收利用生產過程中產生的廢棄物。對於我們公司來說,能夠採用更環保的封裝技術,不僅能符合法規要求,也能提升企業形象,獲得更多消費者的青睞。因此,我希望書中能提供一些關於綠色封裝的最新研究成果、實踐案例,以及未來發展趨勢的預測,讓我們能夠提前佈局,跟上產業的永續發展步伐。

评分

這本《實用IC封裝》讓我感到好奇的一點是,它在「成本考量」的部分會不會有足夠的著墨。畢竟,再先進的技術,如果成本高到讓產品無法量產,那它就只是一個實驗室裡的理論。尤其是在消費性電子領域,成本是決定產品生死存亡的關鍵因素。從IC設計完成到最終封裝出貨,中間有許多環節都會影響到成本,像是封裝材料的選擇、製程的複雜度、測試的良率等等。我特別想知道,書中會不會提供一些關於如何優化封裝製程以降低成本的實例,或者介紹一些性價比高的封裝技術。例如,對於一些應用來說,是不是有更經濟實惠的替代方案,可以達到類似的效能?或者,在材料方面,有沒有一些新興的、價格更低的材料,可以滿足基本的需求?對於我們這些需要頻繁與供應鏈打交道的人來說,了解這些成本方面的資訊,對於做出更具市場競爭力的產品至關重要。希望書中能提供一些具體的數字或案例分析,讓我們能更直觀地理解封裝成本的組成以及如何有效控制。

评分

拿到《實用IC封裝》這本書,我最想知道的是它對於「可靠性」的探討有多深入。在我們這個行業,產品的生命週期跟它的可靠性是息息相關的。一個設計再好的IC,如果封裝不過關,在高溫高濕的環境下就可能出現焊點開裂、內部短路,甚至影響整個系統的穩定運行。尤其是在車載電子、工業控制這種對可靠性要求極高的領域,任何一點小瑕疵都可能導致災難性的後果。我希望書裡能詳細介紹一些常見的可靠性測試方法,像是溫度循環測試(TCT)、濕熱老化測試(HAST)、高加速應力測試(HAST)等等,並且說明這些測試背後的物理機制是什麼。另外,我也對封裝材料的選擇很感興趣,像是各種塑膠封膠的特性、導線架的材質選擇,以及它們對產品可靠性的影響。如果書裡能針對不同應用場景(例如消費電子、汽車電子、物聯網設備)提供一些封裝材料和製程的選擇建議,那就太有價值了。畢竟,在有限的預算內,如何最大化封裝的可靠性,是每一個工程師都要思考的問題。

评分

我最近剛入手了這本《實用IC封裝》,說實話,我對它的期待還挺高的,畢竟在半導體產業工作了幾年,深刻體會到「封裝」這個環節雖然低調,卻是整個生產鏈條中至關重要的一環。從早期簡單的DIP、SOP,到現在各式各樣先進的BGA、WLCSP,甚至是更加複雜的倒裝晶片(Flip-Chip)和扇出型封裝(Fan-Out),封裝技術的演進直接關係到晶片的性能、可靠性、尺寸以及成本。我尤其關注那些能夠提升散熱效率、增加訊號傳輸速度的新型封裝技術,像是2.5D、3D封裝,以及如何在有限的空間內塞入更多的功能,這對手機、AI晶片等高性能應用來說是剛需。此外,封裝的可靠性也是個大問題,在高溫、高濕、高頻的操作環境下,封裝材料的選擇、製程的控制,甚至是如何應對熱應力、機械應力的影響,這些都是我工作上常常需要面對的挑戰。《實用IC封裝》的書名聽起來就很有針對性,希望能藉由這本書,更深入地了解不同封裝形式的優缺點、適用範圍,以及在實際生產中可能遇到的問題和解決方案。期待它能提供一些實用的指導,幫助我在日常工作中少走彎路,做出更明智的決策,進而提升產品的整體表現。

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